SJ 50033/168-2004 半导体分立器件3DA509型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 17:20:12 浏览:9971
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基本信息
标准名称: | 半导体分立器件3DA509型硅微波脉冲功率晶体管详细规范 |
英文名称: | Semiconductor discrete devices Detail specification for type 3DA509 silicon microwave pulse power transistor |
中标分类: |
电子元器件与信息技术 >>
半导体分立器件 >>
半导体三极管 |
ICS分类: |
电子学 >>
半导体器件
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发布日期: | 2004-08-02 |
实施日期: | 2004-12-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
起草单位: | 信息产业部电子第四研究所 |
出版日期: | |
页数: | 10页 |
适用范围
本规范规定了3DA509型硅微波脉冲功率晶体管(以下简称器件)的详细要求。
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所属分类: 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体三极管 电子学 半导体器件
【英文标准名称】:Testconditionsformachiningcenters--Part7:Accuracyofafinishedtestpiece
【原文标准名称】:多工序自动数字控制机床(加工中心)的试验条件.第7部分:精加工试件的精确度
【标准号】:JISB6336-7-2000
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2000-12-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonIndustrialAutomation
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:数值控制;试验条件;机床
【英文主题词】:numericalcontrol;machinetools;testingconditions
【摘要】:この規格は,JISB6191に基づいて,標準の工作物を用いて仕上げ条件下で行う工作精度検査,すなわち,仕上げられた工作物の幾何学的精度の検査事項について規定する。
【中国标准分类号】:J50
【国际标准分类号】:25_040_10
【页数】:13P;A4
【正文语种】:日语
【英文标准名称】:High-pressuresodiumvapourlamps(IEC60662:1980andAmendment1:1986,Amendment2:1987,Amendment3:1990,Amendment4:1992andAmendment5:1993,modified);GermanversionEN60662:1993+A4:1994+A5:1994
【原文标准名称】:高压钠蒸汽灯
【标准号】:EN60662-1994
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:1995-08
【实施或试行日期】:1995-08-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:技术数据单;特性;电灯;可置换性;电气工程;互换性;试验;照明工程;壳体;高压灯;灯具;试验条件;灯;照明系统;安全;规范(验收);安全工程;作标记;定义;设计;钠蒸气灯;检验;金属蒸气灯;尺寸
【英文主题词】:Bodies;Definition;Definitions;Design;Dimensions;Electriclamps;Electricalengineering;Highpressure;High-pressurelamps;Illuminationengineering;Inspection;Interchangeability;Lamps;Lightingsystems;Luminaires;Marking;Metal-vapourlamps;Properties;Replaceability;Safety;Safetyengineering;Sodiumvapours;Sodium-vapourlamps;Specification(approval);Technicaldatasheets;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:K71
【国际标准分类号】:29_140_30
【页数】:86P.;A4
【正文语种】:英语